Skillnad mellan TEM och SEM Skillnaden mellan

TEM vs SEM < Både SEM (scanningelektronmikroskop / mikroskopi) och TEM (transmissionselektronmikroskop / mikroskopi) refererar både till instrumentet och metoden som används i elektronmikroskopi.

Det finns en mångfald likheter mellan de två. Båda är typer av elektronmikroskop och ger möjlighet att se, studera och undersöka små, subatomära partiklar eller sammansättningar av ett prov. Båda använder också elektroner (specifikt elektronstrålar), den negativa laddningen av en atom. Dessutom måste båda proverna vara "färgade" eller blandade med ett visst element för att producera bilder. Bilder som produceras av dessa instrument är mycket förstorade och har en hög upplösning.

Men en SEM och TEM delar också vissa skillnader. Metoden som används i SEM baseras på spridda elektroner medan TEM bygger på överförda elektroner. De spridda elektronerna i SEM klassificeras som backscattered eller sekundära elektroner. Det finns emellertid ingen annan klassificering av elektroner i TEM.

De spridda elektronerna i SEM gav bilden av provet efter att mikroskopet samlat och räknar de spridda elektronerna. I TEM pekar elektronerna direkt mot provet. De elektroner som passerar genom provet är de delar som är upplysta i bilden.

Analysens fokus är också annorlunda. SEM fokuserar på provets yta och dess sammansättning. Å andra sidan söker TEM att se vad som ligger inuti eller bortom ytan. SEM visar också provet bit för bit medan TEM visar provet som helhet. SEM ger också en tredimensionell bild medan TEM levererar en tvådimensionell bild.

När det gäller förstoring och upplösning har TEM en fördel jämfört med SEM. TEM har upp till 50 miljoner förstoringsnivåer medan SEM endast erbjuder 2 miljoner som en maximal förstoringsgrad. Upplösningen av TEM är 0. 5 ångström medan SEM har 0,4 nanometer. SEM-bilder har dock bättre skärpedjup jämfört med TEM-bilder.

En annan skillnad är provtjockleken, "färgning" och preparat. Provet i TEM skärs tunnare i kontrast till ett SEM-prov. Dessutom är ett SEM-prov "färgat" av ett element som fångar de spridda elektronerna.

I SEM utförs provet på specialiserade aluminiumstubbar och placeras på undersidan av instrumentets kammare. Bilden av provet projiceras på CRT eller TV-liknande skärm.

Å andra sidan kräver TEM att provet ska förberedas i ett TEM-galler och placeras mitt i mikroskopets specialiserade kammare. Bilden produceras av mikroskopet via fluorescerande skärmar.

En annan egenskap hos SEM är att området där provet placeras kan roteras i olika vinklar.

TEM utvecklades tidigare än SEM. TEM uppfanns av Max Knoll och Ernst Ruska 1931. Samtidigt skapades SEM 1942. Det utvecklades senare på grund av maskinens skanningsprocessens komplexitet.

Sammanfattning:

1. Både SEM och TEM är två typer av elektronmikroskop och är verktyg för att visa och undersöka småprover. Båda instrumenten använder elektroner eller elektronstrålar. Bilderna som produceras i båda verktygen är mycket förstorade och erbjuder hög upplösning.

2. Hur varje mikroskop fungerar är väldigt annorlunda än en annan. SEM avsöker provets yta genom att släppa ut elektroner och göra elektronerna studsa eller sprida efter slag. Maskinen samlar de spridda elektronerna och producerar en bild. Bilden visualiseras på en TV-liknande skärm. Å andra sidan bearbetar TEM provet genom att rikta en elektronstråle genom provet. Resultatet ses med hjälp av en fluorescerande skärm.

3. Bilder är också en skillnad mellan två verktyg. SEM-bilder är tredimensionella och är korrekta representationer medan TEM-bilder är tvådimensionella och kan kräva lite tolkning. När det gäller upplösning och förstoring får TEM fler fördelar jämfört med SEM.